型號：

SE-VE光譜橢偏儀03090803

描述：SE-VE光譜橢偏儀產(chǎn)品簡介：SE-VE是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息

廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
更新時間
2024-03-07
訪問量
420

詳細介紹

SE-VE 光譜橢偏儀

產(chǎn)品簡介： SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息。高性價比光學橢偏測量解決方案，緊湊集成化設(shè)計，用戶操作體驗，一鍵快速測量分析，人機交互設(shè)計，使用便捷，豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫，保證強大數(shù)據(jù)分析能力，廣泛應(yīng)用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數(shù)等快速表征分析。

產(chǎn)品型號	SE-VE 光譜橢偏儀
主要特點	1、采用高性能進口復(fù)合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍(400-800nm) 2、高精度旋轉(zhuǎn)補償器調(diào)制、 PCRSA 配置，實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集
	3、數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料
技術(shù)參數(shù)	1、自動化程度：固定角 2、應(yīng)用定位：經(jīng)濟型 3、基本功能： Psi/Delta、N/C/S、R 等光譜
	4、分析光譜： 400-800nm
	5、單次測量時間： 0.5-5s
	6、重復(fù)性測量精度： 0.05nm 7、光斑大?。?/span> 大光斑 1-3mm 8、入射角調(diào)節(jié)方式：固定角

	9、入射角范圍： 65°
	10、找焦方式：手動找焦 11、Mapping 行程：不支持 12、支持樣件尺寸：至 160mm
可選配件	1	溫控臺
	2	真空泵
	3	透射吸附組件